校准过程重要，但是校准结果的确认一样重要，对于校准结果的确认，需要从各个数据和校准方式着手。校准完成以后，取下开路元件，正确的校准方式下，测试曲线会在Smith Chart的开路点，其次就是对负载校准特性的检查，校准后连接好测试端口和负载件。

这些方面可以作为校准网络分析仪的参考标准，如果企业自身就具备较为的人员，以及体系比较完善的校准方案，可以从这几个方面来进行操作，如果并具备这样的条件和能力，也可以让第三方校准机构来处理，具体方案可以根据企业需求来制定。

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视频作者：天津国电仪讯科技有限公司

反射特性是被测件反射与输入激励的相对比值， 网络分析仪要完成该项测试，需分别得到被测件输入激励信号和测试端口反射信号。

网络分析仪内部信号源负责产生满足测试频率和功率要求的激励信号，信号源输出通过功分器均分为两路信号，一路直接进入R接收机，另一路通过开关输入到被测件相应测试口，所以，R 接收机测试得到被测输入信号信息。

激励信号输入到被测件后会发射反射， 被测件端口反射信号与输入激励信号在相同物理路径上传播，定向耦合器负责把同个物理路径上相反方向传播的信号进行分离，提取反射信号信息，进入A接收机。

无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和产出率的同时，缩短测试时间和降低测试成本。

减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带合路器）能对射频和微波器件，尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常的表征，让您对这些器件的性能有更加的了解。